台式测厚仪

台式测厚仪THK-01采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

台式测厚仪THK-01主要参数

通用名称：测厚仪

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜）、50±1kPa(纸张)

接触面积：50mm²(薄膜)； 200mm² (纸张)；

薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：15Kg

测试原理

测厚仪THK-01采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。

参照标准

GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》

应用范围：
（1）用于薄膜等软质材料厚度测量；
（2）对金属箔片等硬质材料厚度测量；
（3）测厚仪接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片各个点的厚度值；
（4）更换测量头可完成对纸张、纸板厚度的测试；

测厚仪生产厂家